| 完成本研究成果的国内/国际合作团队成员. |
图a，纯弯曲ZnO微/纳米线横截面线扫CL光谱测量
示意图；图b，标准四点弯曲ZnO微/纳米线示意图；
图c，标准四点弯曲ZnO微/纳米线样品SEM图；
图d，四点弯曲ZnO微/纳米线不同横截面的线扫
CL光谱；e，纯弯曲横截面线扫CL光谱的三维图. |
图a，纯弯曲ZnO微米线横截面A、B、C三点不同应
变位置的时间积分TRCL光谱；图b，无应变位置的
TRCL条纹相机数据图像；图c-e，纯弯曲横截面A、
B、C三点不同应变位置的TRCL条纹相机数据图像. |
